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芯片測試是確保芯片能夠正常工作的關(guān)鍵步驟。對于SoC芯片測試，由于SoC的基礎(chǔ)是深亞微米工藝，因此需要采用全新的測試方法。設(shè)計工程師必須在設(shè)計初期就做出測試規(guī)劃，以確保每個功能元件都能得到充分的測試。因此，芯片測試在設(shè)計初期系統(tǒng)級芯片測試中是非常重要的。
| 中文名 | 芯片測試 |
| 個晶體管 | 1億 |
| 工具 | ATPG工具 |
| 軟件 | 測試軟件 |
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記憶障礙是以遺忘和記憶錯誤為特征的一種精神心理科疾病。多因癡呆、腦外傷、嚴(yán)重應(yīng)激事件、柯薩可夫綜合征等多種疾病導(dǎo)致遺忘或記憶錯誤。記憶障礙主要表現(xiàn)：記憶減弱、遺忘、錯構(gòu)、虛構(gòu)、潛隱記憶等癥狀。記憶障礙主要通過病因治療等改善癥狀。記憶障礙常因遺忘和記憶錯誤給生活和工作帶來不便。記憶障礙的預(yù)后與其病因有
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尚可名片
這家伙太懶了，什么都沒寫！
